当Pr45＝0时；每转反馈脉冲数＝Pr44 × 4
当Pr45≠0时，每转反馈脉冲数＝(Pr44/Pr45) × 编码器分辨率
一、当Pr45=0时
Pr4A＝0 ，Pr45＝0，Pr44＝2500，Pr4B＝10000，此时编码器反馈一圈值由Pr44设定，则4XAB相反馈后的数值应为Pr44设置的数值乘以4，即2500×4＝10000，而此时Pr4B设置为10000，就可以满足板卡输出脉冲和编码器反馈值相等。
二、当Pr45≠0时
按照以下方法设置：
设伺服实际接收到的指令脉冲个数为AP，运动控制卡发送给伺服的指令脉冲个数为CP且假设此时第1指令分倍频分子有效（Pr48）。
这可以影响到伺服在接受脉冲后的实际转速，同时要注意电机的脉冲接收上限。
假设此时第1指令分倍频分子有效（Pr48）。
只要满足上述等式的参数设置可以使得板卡输出与反馈数值一致。
例如我们设定Pr44—4B参数分别设置为：125、4096、0、4096及125
此时等式成立可以使得板卡输出与反馈值一致
例如：我们设置Pr48＝1，Pr4A＝1,Pr48=1,则按照上述公式算出可得Pr45和Pr44应设置为2和1，则编码器反馈率为：（1/2）×10000
其余电机及板卡相关参数设定注意事项：
相关参数说明：
1、 通过参数Pr02将伺服电机的控制模式设为位置控制模式
2、 设置参数Pr41和Pr42的脉冲输入形式必须与我们运动控制卡的脉冲输出形式一致，同时保持Pr46的极性与Pr41和Pr42所设定的极性一致。
端子板DIN-68S引脚说明：
激光衍射是一种测试广泛样品的测量技术，无论是液态还是固态样品。使用不同的衡量模式不仅合理地说明样品粒径，也能确保用户将结果与其它测量技术做对比。在这篇应用报告中，我们提供Kalliope软件衡量模式的概览和解释，衡量模式之间和不同测量技术间的相互对比1介绍
为了合理地说明一个样品的粒度，理解测试数据衡量模式之间的差异很重要。
PSA的Kalliope软件有三种衡量模式：体积，数量和表面积。每个模式生成一个不同的结果，分别代表了测试样品不同的物理性质。尤其当对比不同的测量技术时，使用不同的衡量模式查看结果很有用。
2激光衍射和它的衡量模式
测量原理基于颗粒的激光束衍射。为了简化，理论假设所有的颗粒是为球形。PSA最常用和默认的衡量模式是体积分布。Kalliope软件其它可以选择的衡量模式是数量和表面积分布。可用模式之间的切换事实上是软件的计算，基于表面积方程和球形体积。考虑到激光衍射假定球形颗粒，通过Kalliope软件简单计算能够把得到的体积结果转换成表面积或数量分布。
2.1体积分布
体积分布表示颗粒体积在不同的粒径通道中的分布情况。这种衡量模式更关注大颗粒而不是小颗粒。容易观察的影响，如果一个样品在不同粒径通道包含相同数量的颗粒，如图2所示。通常激光衍射获得的结果，沉淀法和声谱学用体积分布衡量。
2.2表面积分布
表面积分布表示不同的粒径通道中颗粒表面积分布情况。这种衡量模式也侧重大颗粒，但是这种影响比体积分布小。如果颗粒的表面积对最终用途很重要（例如水泥或矿业，催化剂，层析树脂等），表面积分布尤其有用。
2.3数量分布
颗粒度分布的另一种表达是数量分布，表征颗粒数量对于样品粒径的情况。这种衡量模式对所有的颗粒一视同仁，不依赖于它们的粒径。与体积或者表面积分布相比，数量分布特别向小尺寸颗粒偏移。为了更容易理解不同的衡量模式，考察一个包含等量100nm和1um颗粒的双峰样品（图2）。对应的颗粒度分布如图3所示。如果结果与显微镜，图像法或纳米跟踪分析比较，可以使用数量分布。
一般来说，体积分布的中位径是最大的，接下来是表面积分布的中位径。数量分布的中位径是三种分布中最小的。
图3：一个双峰样品的体积（左，比例1：1000）颗粒度分布转换成数量（中，比例1：1）和表面积（右，比例1：100）颗粒度分布
因为两个分布颗粒数量相等，数量分布图显示两个1：1比例的峰（图3：中）。改变衡量模式成表面积，考虑球形表面积方程（图1：右侧），分布比例变为1：100。再则，改为体积分布（图3：左侧），比例增大到1：1000，因为此分布与球形体积（πd
3/6）成比例。这些观察如图3所示。
3结论
激光衍射是一种测试广泛样品的测量技术，无论是液态还是固态样品。使用不同的衡量模式不仅合理地说明样品的粒径，也能与其它测量技术做比较。因为每种衡量模式都有它的优点，不应该被绝对化考量。在这篇应用报告中，我们提供Kalliope软件衡量模式的概览和解释，衡量模式之间和不同测量技术间的相互对比。
安东帕创建于1922年，总部位于奥地利。安东帕在密度和浓度的测量，溶解二氧化碳的测定，以及在流变学和黏度测量领域处于世界领先地位。致力于为全球工业和科研客户提供最合适的仪器。产品涵盖密度计、微波消解仪、微波合成仪、旋光仪、折光仪、黏度计、流变仪、馏程分析仪、闪点测试仪、X-射线结构分析、固体表面电位分析仪、表面力学性能测试仪器、在线分析检测仪表、颗粒特性分析、原子力显微镜以及固体材料直接表征等。Mitsubishi Graphic Operation Ter. A951GOT-QSBD (1)
IAI RC Robo Cylinder w/ Controller RCP-C-RMAI
CNC PRECISION XY Table w/ Mitutoyo Digital Micrometer
Keyence Touch Panel VT-7SW (15)
Keyence Touch Panel VT-7SB (15)
Yaskawa Minertia - UGRMEM-02MAKOE / UGRMEM-04MA20E N
Sanyo Denki PM Driver PMM-CS-801-2 (S1)
Omron 3F88L-13OD / RS17 Cam Positioner (A1)
ACS Tech80 SB214SA-2 R motion controller (J)
Electro-Craft BRU-series DDM-005X 9101-1545
Mitsubishi Melsec PLC AJ71T32-S3 (26)
Parker Daedal Actuator 31cm to 76cm 802-0756E (F1)
MEOS Mounting Plate with Lens
Tamagawa 3316N204E39 / 4084N11E46 / 3275N212E29
Mitsubishi AC Servo MR-C40A + HC-PQ43 /PQ43B (EE)
SIEMENS Simatic S5 ET200U,6ES5 482,Bus module 6ES5 700
Yaskawa ServoPack SGDS-A5A12A w/ SGMAS-A5A2A41 (13)
NSK ball screw W2507SA-1P-C5Z 07H4-0001 77 cm
NSK ball screw W2509FA-1P-C5Z 97 cm (F1)
Intermec 1552 / 9745 Wireless Barcode (J2)
KOLLMORGEN Servo Star SP CP303250 (D1)
Mitsubishi Servo HC-MFS43 / PQ23 / MFS13 / HC-MFS43-S1
Sigma Koki rotary stage = for OPTEM Zoom (A1)
Sigma Koki Precision Stage - Level Top- used (31F)
Oriental LIMO controller EZMC13A-A & EZT1 teaching
Parker Compumotor CM233FJ-01781 340V (D1)
FESTO motor MTR-AC-70-3S-AB (F1)
Keyence Operator Panel KV-D30 , w/ KV-24DR (A1)
Sigma Koki Goniometer & Rotate Stage (31F)
Mitsubishi Melsec A1S62RD3 NIB (A1)
Nematron KBD-2202 (J)
Siemens Simatic 6ES7 340-1AH02-OAE0 (J)
Sanyo Denki 67ZA015A541PA1 / 65 BA030 DXT 02 NIB (J)
Omron Teaching unit TU001 C500-TU001 (H1)
YOKOGAWA Factory ACE uFA20 (J-Up)
AXIOM Industrial Automation - AX752 / AX8045 / AX
Siemens CCTV CFFC1315-LN
MAKINO FPB2-EC-1 Panel (11A)
Mitsubishi AC Servo MR-J2-20A1 w/ HC-MF23W1 (16)
Samsung PLC N-70a ,DC IN 32P ,RY OUT 16P (16A)
